CT-8685系列電測機培訓(xùn)教材

一．各按名稱及功能

1.系統(tǒng)按鍵群組

a. [Func] 系統(tǒng)功能選單

b.. [Setup] 系統(tǒng)設(shè)定選單

c. [Print] 打印功能選單

2. 量測快速鍵鍵群組

a. [File] 檔案管理設(shè)定

b. [Save] 儲存測試設(shè)定數(shù)據(jù)文件設(shè)定

c.  [Learn] 斷短路學(xué)習(xí)

d. [Stat] 列示測試統(tǒng)計資料

e.  [Mode] 測試模式設(shè)定

f.  [O/S] 斷短路表顯示

g.  [Cond] 導(dǎo)通阻抗測試編輯

h. [R] 電阻設(shè)定編輯

j. [C] 電容設(shè)定編輯

k. [Hipot] 高壓設(shè)定編輯

l. Diode([Shift]+[R]) 二極管設(shè)定編輯

3. 控制按鍵(EditKey)群組

a. 文數(shù)字鍵 用以輸入文數(shù)字，包含0~1,A~Z,．/

b. [BS] (?) 退格鍵(Back Space)

c.方向鍵 用于光標(biāo)之移動,包含[←] [→] [↑] [↓]

[PgUp] [PgDn]以方便資料編輯

d. [Exit] 使系統(tǒng)跳離目前狀態(tài)并回到前一狀態(tài)

4. [Enter] 確認(rèn)鍵

5. [TEST] 開始量測鍵

6.操作輔助鍵(SoftKey)群組

S1~S6 位于LCD 右側(cè)，作為輔助操作/設(shè)定用

7. [Reset] 系統(tǒng)重置鍵，相當(dāng)于暖開機(Warm Start)

二.按鍵操作

功能設(shè)定與分析模式包含系統(tǒng)主功能[Func]、系統(tǒng)設(shè)定[Setup]與打印功能[Print]. 

1.系統(tǒng)主功能 (Function)

提供系統(tǒng)之主要功能選單，首先按下[Func]

在以[↑]或[↓]鍵選擇所需項目，按[Enter]即可進入選擇項目功能，可按[Exit]退回上一畫面.

2. 系統(tǒng)自我測試

本功能可設(shè)定此一機臺是否于開機后會直接執(zhí)行自我測試的功能.首先按[Func]，再以[↑]或[↓]選定本項目后按[Enter]，此時系統(tǒng)則會執(zhí)行自我測試的功能，可按[Exit]跳離.

3. 設(shè)定系統(tǒng)時間

本功能可調(diào)整系統(tǒng)的年/月/日/時/分/秒，按下[Func]，請以[↑]或[↓]選擇至本項目并按下[Enter]，請分別輸入正確日期與時間，輸入完畢請按S1[設(shè)定]儲存，可按[Exit]跳離.時間為24 小時制。

4.更改系統(tǒng)密碼

本測試機提供按鍵保護，以避免資料被任意修改。首先 按下[Func]，請以[↑]或[↓]選擇至本項目并按下[Enter]，請輸人原密碼并按下[Enter]，請使用文數(shù)字鍵鍵入新密碼并按[Enter]且牢記此密碼，請再次輸入新密碼，確認(rèn)新密碼并按[Enter]，此時屏幕上會顯示{設(shè)定成功}，新密碼設(shè)定成功會自動跳回功能選單中，若要修改密碼，請重復(fù)以上之設(shè)定步驟.

5. 設(shè)定屏幕明暗

本功能提供LCD 畫面亮度的控制，值愈大亮度愈亮，共分為0~10 階段，默認(rèn)值為 | 5 |，首先按下[Func]，再以[↑]或[↓]選擇至本項目并按下[Enter]，依需要按下S1 [更亮]或S6[更暗]變更其亮度，并按[Enter]確認(rèn)，變更完畢后，可按[Exit]跳離。

6. 直流高壓校正

直流高壓校正功能即調(diào)整Read(量測值)*近似于DC 設(shè)定值。首先按下[Func]，再以[↑]或[↓]選擇至本項目并按下[Enter]，然后按S1[上升]或S2[下降]調(diào)整Read(量測值)*近似于DC 設(shè)定值，設(shè)定完畢，請按S4[完成]，若欲取消設(shè)定之資料則可按S6[放棄]即可。

7. 絕緣阻抗校正功能

即測試電壓設(shè)定為200V~700V 量測值為無窮大。首先按下[Func]，再以[↑]或[↓]選擇至本項目并按下[Enter]，按S1[上升]或S2[下降] ， 設(shè)定完畢，請按S4[完成]若欲取消設(shè)定之資料則可按S6[放棄]即可。

8. 內(nèi)部阻抗歸零

本功能可執(zhí)行機器內(nèi)部阻抗歸零之動作。首先按下[Func]，再以[↑]或[↓]選擇至本項目并按下S1[歸零]或[Enter]， 按下[Enter]即可執(zhí)行內(nèi)部阻抗歸零的動作(當(dāng)您欲執(zhí)行內(nèi)部阻抗歸零時，請先插好歸零治具)，若PORT A (A 槽)完成內(nèi)部阻抗歸零，LCD 會顯示詢問是否依序進行，然后依次可以進行B、C、D的歸零。按下S6 [**歸零]可執(zhí)行**內(nèi)部阻抗歸零的動作.

F 歸零意指將所有PIN 腳完全部短路后，予以量測其值并儲存于機器內(nèi)部，

并修正雜散電容阻抗，以確保量測準(zhǔn)確度。

9. 尋找輸出點位 (Pin Search)

本功能可顯示出目前的輸出點位為何。首先按下[Func]，再以[↑]或[↓]選擇至本項目并按下[Enter]，將自動找點探針接于Pin Search接頭上，并將探針指于你所欲得知之點位上。

三.系統(tǒng)設(shè)定 (Setup)

系統(tǒng)設(shè)定包括系統(tǒng)組態(tài)與測試相關(guān)動作設(shè)定. 首先按下[Setup]再以[↑]或[↓]選擇所需項目，并按[Enter]，若有需要請按S1[項目選擇]切換.完畢可按[Exit]跳離.

1. 按鍵聲音

本測試機可依需要開啟/關(guān)閉按鍵的聲音。默認(rèn)值為|全部有聲|

n 全部有聲 按鍵無論有效鍵或無效鍵皆設(shè)定有聲響

n 全部無聲 按鍵無論有效鍵或無效鍵皆設(shè)定無聲響

n 有效鍵聲 有效鍵才設(shè)定有聲響

n 無效鍵聲 無效鍵才設(shè)定有聲響

2. 按鍵操作

本測試機提供按鍵保護，以避免資料被任意修改。默認(rèn)值為| 開放 |。首先按下[Setup]，再以[↑]或[↓]選擇至本項功能，按S1[項目選擇]，然后輸入舊密碼.解除保護模式時若忘記密碼，在畫面顯示{輸入舊密碼}后按[Shift]+[BS]即可顯示原密碼. 

3.測試警報

本功能提供測試結(jié)果之警訊，共有3 個選項，可視其需要加以設(shè)定

n 全部有聲 不論待測物測試結(jié)果為良品或**皆設(shè)有聲響

n 全部無聲 不論待測物測試結(jié)果為良品或**皆設(shè)無聲響

n **有聲 只設(shè)定待測物測試結(jié)果為**才有聲響

n 良品有聲 只設(shè)定待測物測試結(jié)果為良品才有聲響                                                 顯示及打印測試資料

本功能即設(shè)定測試統(tǒng)計資料顯示及打印的型式，共有三個選項

n 全部顯示 不論錯誤與否皆顯示及打印測試資料

n 全不顯示 不論錯誤與否皆不顯示及打印測試資料

n 錯誤步驟 顯示及印列錯誤步驟

4. 統(tǒng)計測試結(jié)果

本功能為切換系統(tǒng)是否進入統(tǒng)計模式，共有二個選項，默認(rèn)值為|否|，說明如下

n 是 統(tǒng)計模式打開

n 否 統(tǒng)計模式關(guān)閉

F 統(tǒng)計模式之激活會影響測試速度，請視需要再打開此功能

5. 開機自我測試

共有二個選項，默認(rèn)值為│是│

n 是 須作開機自我測試

n 否 不須作開機自我測試

6.連續(xù)錯誤警報聲

當(dāng)測試發(fā)生錯誤時，會出現(xiàn)連續(xù)錯誤警報聲響

7.測試檔案

共有三個選項，默認(rèn)值為│自動判別│

n 自動判別 測試系統(tǒng)自動判別為單一檔案或循序檔案測試

n 單一檔案 指定為單一檔案測試(即主畫面所顯示之{目前檔案})

n 循序檔案 指定為循序檔案測試(無論目前主畫面所顯示之{目前檔

案}為何，皆進行循序檔案之測試)

8打印功能選單 (Print)

本測試機提供直接的打印機輸出，方便您將所需要的資料打印出來.

(a) 選定所需資料或畫面

(b) 按下[Print]即可

9．學(xué)習(xí)斷短路設(shè)定 (Learn)

本機臺對于斷短路設(shè)定是以學(xué)習(xí)的方式作設(shè)定的，亦即將測試線材之連接

情形記憶在系統(tǒng)中，而系統(tǒng)將測試之結(jié)果顯示于LCD 上

1. 當(dāng)測試模式設(shè)定中[MODE]，線材種類設(shè)定為{一般}。首先按下[Learn]當(dāng)進行線材測試時，按下[TEST].由LCD 顯示畫面中，我們可得知測試總數(shù)及良品、**品的數(shù)目.

2. 當(dāng)測試模式設(shè)定[MODE]中，線材種類設(shè)定為{點測}。首先按下[Learn]. 使用自動尋點探針指定所欲測試之短路點位，比如：當(dāng)您使用自動尋探針，并將之置于線材指定之點位上(A01)，按下S1[循序?qū)W習(xí)]， 依序?qū)⑻结樦糜诰€材指定之點位上(A03,A05,A07)亦按下S1[循序?qū)W習(xí)]，完畢，請按S4[完成]，請按[Enter]儲存檔案或按[Exit]跳離，亦可鍵入新檔名再按[Enter]另存新檔，當(dāng)進行線材測試時，按下[TEST]. 請利用自動尋點探針置于A01.請務(wù)必依序并利用自動尋點探針置于A03,A05,A07，即可完成線材測試之動作，因*初我們預(yù)設(shè)4 個步驟，所以每一待測物之測試，均須循序測試由。步驟1 至步驟4 完全正確無誤才算良品。

F *大只能設(shè)定64 個測試步驟

3.試模式設(shè)定中，線材種類設(shè)定為{單邊}。首先按Learn]， 畫面中右邊所顯示出之?dāng)?shù)值即為所謂的單邊測試靈敏度(請參考P39.P40)。當(dāng)進行線材測試時，按下[TEST]， LCD 顯示畫面中，我們可得知測試總數(shù)及良品、**品的數(shù)目。

11. 查看統(tǒng)計資料 (Statistic)

本功能可查看測試結(jié)果之統(tǒng)計資料，包括：測試總數(shù)、良品個數(shù)、**品

個數(shù)以及**原因分析亦即尋求項目分類**品個數(shù),首先按Stat],按下S1[數(shù)量比率]，則可使統(tǒng)計資料以百分比的型式呈現(xiàn),按下S6[**資料]，則會將現(xiàn)有的統(tǒng)計資料完全**.完畢后，可按[Exit]跳離

12.Chapter III 綜合測試模式

測試模式是利用程序化設(shè)計功能，針對不同之測試項目設(shè)定不同之測試條件,而予以同時且自動之測試，以滿足不同之需求，達到*佳效率，可分成

n 測試條件設(shè)定

n 綜合測試實作

n 檔案管理

測試條件設(shè)定

此部份指的是針對待測物(DUT)測試時所設(shè)定的一些管制標(biāo)準(zhǔn)與相對應(yīng)的測試條件，包含O/S / Cond / R / C / HIPOT / Diode 設(shè)定，其內(nèi)容主要為

n 各測試項目(Parameter)之測試訊號(頻率、電壓大小、電流等)

n 管制標(biāo)準(zhǔn)，規(guī)格管制標(biāo)準(zhǔn)值、誤差比率

a.斷短路表{ o/s}

首先按O/S，斷短路表是利用學(xué)習(xí)的方式而來的，完畢可按[Exit]跳離

b.導(dǎo)通阻抗測試編輯 (C)

首先按下[Cond]，再以[↑]或[↓]選擇至您所要設(shè)定之項目，導(dǎo)通阻抗設(shè)定，請依需要利用數(shù)字鍵鍵入數(shù)字，導(dǎo)通測試模式設(shè)定，可利用S1[項目選擇]切換為一般/瞬間狀態(tài)。瞬間導(dǎo)通測試次數(shù)，請依需要利用數(shù)字鍵鍵入數(shù)字，按下S5 [線材歸零]可執(zhí)行線材歸零的動作(當(dāng)您欲執(zhí)行線材歸零時，請先插好歸零治具)。

F 歸零意指將所有PIN 腳完全短路后，予以量測其值并儲存于機器內(nèi)部，并修正雜散電容阻抗，以確保量測準(zhǔn)確度。建議每三個月歸零一次以確保準(zhǔn)確度。

c. 電阻設(shè)定編輯 ( R)

首先按下[R]，按S1[拷貝上行]可作拷貝上行資料的動作，按S2[刪除此行]可作刪除所選定行數(shù)之資料，按S5[*前一行]可使光標(biāo)移至現(xiàn)有數(shù)據(jù)的**行上，按S6[*后一行]可使光標(biāo)移至現(xiàn)有數(shù)據(jù)的*后一行上，請利用方向鍵移動至您所要設(shè)定的項目，鍵入您的規(guī)格管制標(biāo)準(zhǔn)值，當(dāng)您利用方向鍵移動至標(biāo)準(zhǔn)值時， 按下S1 [單步學(xué)習(xí)]，則目前所在之標(biāo)準(zhǔn)值會經(jīng)由學(xué)習(xí)的方式測出待測，物指定點位之標(biāo)準(zhǔn)值按下S2 [全部學(xué)習(xí)]，則所有標(biāo)準(zhǔn)值皆會經(jīng)由學(xué)習(xí)的方式測出待測物指，定點位之標(biāo)準(zhǔn)值， 按下S4 [全部相同]，則所有標(biāo)準(zhǔn)值皆會與所指定點位的標(biāo)準(zhǔn)值相同，按下S5 [歸零]， 按下[Enter]即進行歸零動作，按下S6[**歸零]即可**所作電阻歸零之資料.

d. 電容設(shè)定編輯 (Capacitance )

按下[C],然后按S1[拷具上行]可作拷具上行資料的動作， 再按S2[刪除此行]可作刪除所選定行數(shù)之資料，再按S5[*前一行]可使光標(biāo)移至現(xiàn)有數(shù)據(jù)的**行上，再按S6[*后一行]可使光標(biāo)移至現(xiàn)有數(shù)據(jù)的*后一行上，，利用方向鍵移動至您所要設(shè)定的項目，然后鍵入您的規(guī)格管制標(biāo)準(zhǔn)值，當(dāng)您利用方向鍵移動至標(biāo)準(zhǔn)值時，面顯按下S1 [單步學(xué)習(xí)]，則目前所在之標(biāo)準(zhǔn)值會經(jīng)由學(xué)習(xí)的方式測出待測

物指定點位之標(biāo)準(zhǔn)值，按下S2 [全部學(xué)習(xí)]，則所有標(biāo)準(zhǔn)值皆會經(jīng)由學(xué)習(xí)的方式測出待測物指，定點位之標(biāo)準(zhǔn)值，按下S4 [全部相同]，則所有標(biāo)準(zhǔn)值皆會與所指定點位的標(biāo)準(zhǔn)值相同，按下S5 [歸零]即可進行歸零動作。按下[Enter]即進行歸零動作，按下S6[**歸零]即可**所作電容歸零之資料。

e. 高壓設(shè)定編輯 (HIPOT)

此功能為DC 絕緣、AC 耐壓的測試電壓、頻率、時間、規(guī)格及其它項目之設(shè)定。按下[Hipot]利用方向鍵移動至您所要設(shè)定的項目,鍵入您的規(guī)格管制標(biāo)準(zhǔn)值.

f. 測試模式設(shè)定 (MODE)

測試動作設(shè)定是在設(shè)定測試時之動作與相關(guān)的設(shè)定。首先按下[Mode]，請以[↑]或[↓]移動至您所要設(shè)定之項目，設(shè)定完畢，可按S6[測試項目]以設(shè)定欲進行測試之項目，按下S6[測試項目]，LCD 顯示畫面如下，請以[↑]或[↓]移動至您所要設(shè)定之項目，按下S1[項目選擇]切換是否進行所選定項目之測試。項目說明如下n 斷短路判定值 請按S1[項目選擇]切換設(shè)定。數(shù)值為2 KΩ/5/10/20/50 KΩ

n 線材種類 請按S1[項目選擇]切換一般/點測/單邊

n *大容許電容量 請按S1[項目選擇]切換設(shè)定數(shù)值為

0.05uF /0.1 /0.2/0.5/1uF

n 測試啟動方式 請按S1[項目選擇]切換其設(shè)定，共有三種選擇

– 自動 測試激活方式之設(shè)定為自種激活

– 手動 測試激活方式之設(shè)定為手動激活

– 連續(xù) 測試激活方式之設(shè)定為連續(xù)激活

n 自動測試插入延遲 設(shè)定測試治具閥門延遲時間，測試時若應(yīng)用治

具閥門時，其動作需有一段延遲時間，因此實

際測試時間需延，請利用數(shù)字鍵鍵入

n 連續(xù)測試間隔時間 連續(xù)測試時兩待測物(DUT)測試之時間區(qū)隔，請

利用數(shù)字鍵鍵入

n 連續(xù)測試次數(shù) 請利用數(shù)字鍵鍵入連續(xù)測試次數(shù)

n 測試有錯誤時 當(dāng)測試有誤時，測試?yán)^續(xù)與否之設(shè)定請按S1 [項

目選擇]切換其設(shè)定為停止/不測高壓/全部測完

n 短斷路端點判斷 請按S1[項目選擇]切換設(shè)定為是/否

n 單邊測試靈敏度 判斷有線與否(線愈長，靈敏度數(shù)值愈高)

當(dāng)顯示出靈敏度數(shù)值>您所設(shè)定的單邊測試靈

敏度數(shù)值時，即判定為有線

n 瞬短斷測試時間 請利用數(shù)字鍵鍵入瞬短斷路測試時間

n 瞬短斷測試*大點位 請按S1[項目選擇]切換設(shè)定為128 / 256

若您所購置之機臺為128Pin 則無此設(shè)定項目，此項目*大功能在節(jié)

省瞬短斷測試時間

F 單邊測試只有Port A(A 槽)有效(即指A1~A64)，當(dāng)測試模式設(shè)定中之線材種

類設(shè)定為{單邊}，且單邊測試靈敏度設(shè)為{0}，此時進行短斷路學(xué)習(xí)，實例

測試如下：將待測線材置于Port A(A 槽)按下[Learn]，LCD 畫面顯示如下

一般上無線狀態(tài)所量測出來的數(shù)值約為20 左右。所以很明顯地可以看出有

線點位及線數(shù)，此時可依您的需要設(shè)定單邊測試靈敏度(建議設(shè)定在有線/

無線數(shù)值之中)以此為例，若我們將單邊測試靈敏度設(shè)為70 (約20~120 之中間值)，再按下,[Learn]，LCD 畫面顯示如下:由此，我們即可馬上知道有線數(shù)為6，即有6 條線.當(dāng)您對測試模式設(shè)定中之短斷路端點判斷設(shè)定為∣是∣時，當(dāng)測試斷短路

發(fā)生錯誤時，系統(tǒng)會自動去偵測出發(fā)生斷路之點位所在！

四. 綜合測試實作

做完以上的設(shè)定之后，即可進行綜合測試實作。其因操作程序之不同，可細分為兩種：實時測試(Real Time Test)與已存測試(Existed Test)，分別說明如下：

1. 實時測試

此部份是將已儲存在主存儲器內(nèi)之測試條件設(shè)定為測試之條件，實時對待

測物予以測試，是*常用的測試方法，其步驟說明如下，先檢視測試條件設(shè)定是否正確

(b) 按下[Mode]即顯示測試模式設(shè)定畫面，請檢視并確認(rèn)測試模式設(shè)定是否正確，并依需要予以更改，確認(rèn)無誤后，請按[EXIT]跳離，回到主畫面，按下[TEST]后即開始測試，測試完畢或須中斷測試時，請按[EXIT]跳離

2. 已存測試(Existed Test)

您可將儲存在內(nèi)存內(nèi)之已存盤案(Existed File)加載至主存儲器后予以執(zhí)行

測試，其操作說明如下：首先按下[File]，再請以[↑]或[↓]移動光標(biāo)，選定欲加載之文件名稱，確認(rèn)后按下[Enter]，測試機開始把選定之檔案加載主存儲器中，此時LCD 畫面將跳回主畫面，目前檔案即顯示為您所選定之檔案名稱，此時即檔案加載完成，請按[EXIT]跳離，回到主畫面，按下[Mode]即顯示測試模式設(shè)定畫面，請檢視并確認(rèn)測試模式設(shè)定是否正確，并依需要予以更改，確認(rèn)無誤后，請按[EXIT]跳離，回到主畫面，按下[TEST]后即開始測試，測試完畢或須中斷測試時，請按[EXIT]跳離。

3. 檔案管理(File)

您可執(zhí)行選取舊檔/刪除舊檔/檔案排序之動作，以方便檔案管理與取用，其

操作說明如下：選取檔案。選取檔案是將已儲存在長久內(nèi)存內(nèi)之已存盤案加載至主存儲器中，以方便

其它用途，包含測試、編輯、打印等，其操作說明如下：首先 按下[File]，請以[↑]或[↓]移動光標(biāo)，選定欲加載之文件名稱，按下[Enter]即是執(zhí)行加載檔案的動作，測試機開始把選定之檔案加載主存儲器中，此時LCD畫面將跳回主畫面，目前檔案即顯示為您所選定之文件名稱，

此時即檔案加載完成

4. 循序設(shè)定

當(dāng)您必須對同一待測物進行數(shù)種測試步驟時，您可將所需進行的測試步驟，以循序測試的方式設(shè)定，以簡化您的測試程序并減少您的測試時間。首先按下[File]，然后按下S1[循序設(shè)定]，您可按S1[循序選檔] ，LCD 顯示畫面如下：運用[↑]或[↓]移動光標(biāo)，選擇并設(shè)定待測物所需進行的測試步驟，舉例如下，我們選定1RODD-A1RODD-B，1RODD-D 此三個檔案，運用[↑]或[↓]移動光標(biāo)移至1RODD-A，然后按下S3[選取]，再運用[↑]或[↓]移動光標(biāo)移至1RODD-B，然后按下S3[選取]，繼續(xù)運用[↑]或[↓]移動光標(biāo)移至1RODD-D，然后按下S3[選取]， 請按S4[完成]， 如此即完成循序測試設(shè)定，另外亦可利用S2[循序?qū)W習(xí)]來設(shè)。舉例如下，置入待測物，按下S2[循序?qū)W習(xí)]， 按下S1[學(xué)習(xí)]，則產(chǎn)生了第1 個步驟設(shè)定， 以此類推，可設(shè)定第1 個、第2 個…….步驟，假設(shè)我們共設(shè)定了5 個。測試步驟，設(shè)定完成后，并按下S3[完成]， 如此亦可完成循序測試設(shè)定，按下S3[循序測試]或[TEST]，進行第1 測試步驟， **步驟PASS，LCD 畫面顯示{等待測試步驟2}，循序完成1,2,3,4,5 個測試步驟后，  以此類推至完成所設(shè)定的5 個步驟之后， 如此即完成循序測試。

F 每一個測試步驟完成后，機器會掃瞄短斷路(O/S)，當(dāng)短斷路(O/S)狀態(tài)改變

后，機器才會進行下一個測試步驟

F 若要機器不必等短斷路(O/S)狀態(tài)改變即進行下一個測試步驟，請將該測試

步驟檔案測試模式中的{測試起動方式}設(shè)定為?連續(xù)?即可

5. 建立新檔

建立新的檔案于長久內(nèi)存內(nèi)中之功能，其操作說明如下：首先 按下[File]，按下S2[建立新檔]即可進行建立新檔的動作，鍵入您所喜歡之文件名稱，確認(rèn)您欲建立之文件名稱并按下[Enter]即完成建立新檔之動作。

6. 刪除舊檔

刪除舊檔是將已儲存于長久內(nèi)存內(nèi)之檔案長久刪除，以避免占用寶貴的永

久內(nèi)存，其操作說明如下

 首先按下[File]并以[↑]或[↓]移動光標(biāo)，選定欲刪除之文件名稱，按下S5[刪除舊檔]即可執(zhí)行刪除檔案的動作，確認(rèn)您欲刪除之文件名稱并按下[Enter]即完成刪除檔案之動作.

7. 檔案排序

檔案排序功能，可使您依其需要快速對已存有之檔案作排序之動作，其操

作說明如下：

首先按下[File]，按下S6[檔案排序]，即可依您的需要作出檔案排序之動作，共有五個

選擇，詳列如下：

n 依文件名稱由大至小排列

n 依文件名稱由小至大排列

n 依儲存順序由小至大排列

n 依檔案日期由大至小排列

n 依檔案日期由小至大排列

8.檔案儲存(Save)

檔案儲存是將在主存儲器內(nèi)之資料儲存于長久內(nèi)存，以方便其它用途，包含加載、測試、編輯、打印等，其操作說明如下：首先請先檢視測試條件設(shè)定是否正確，然后 確認(rèn)無誤后，請回到主畫面，按下[Save]您可直接使用[EditKey]中之文數(shù)字鍵鍵入您喜歡的名稱，然后按下[Enter]確認(rèn)，即完成儲存檔案的工作。項目 符號 量測范圍電阻 R 0.1W~1.0MW，二極體測試 D 0.0V~7.0V，導(dǎo)通 COND 0.1W~50.0W，高壓（漏電流） IL 0.1mA~5 mA，絕緣電阻 IR 1MW~500MW，斷/短路 O/S 2KW~50KW，瞬間短斷路測試 2KW~50KW，瞬間導(dǎo)通測試 0.1W~50.0W，直流高壓絕緣測試，200~700Vdc，50V Resolution，±5%準(zhǔn)確度。